通常需要確定以下問題來確定探針臺的選型：

1、最大需要測幾英寸的晶圓或者器件？ 
2、探針臺機械精度要求多高？ 
3、點測樣品的尺寸規格為多少？100um*100um或60um*60um的pad，還是FIB制作的mini pad，還是ic內部的metal？ 
4、Pad尺寸大于20um就都可以使用體式顯微鏡（體式顯微鏡最大倍率200倍）
5、最多需要幾根探針同時去點測？ 
6、會測試到的最大的電流、電壓值是多少（電壓越高探針的針尖就要越粗、對夾具的要求也會越高。5A以下推薦使用同軸夾具、5A以上推薦使用三軸夾具）
7、漏電精度需要達到多高？是否有射頻的需求？三軸管狀夾具：100FA，同軸彈簧夾具：10PA（漏電精度：最小能測到的電流的量級）
8、是否會用到探針卡？ 
9、光學顯微鏡的最小分辨率需要用到多少？ 
10、顯微鏡方面，是否需要添加偏光片做LC液晶熱點偵測？ 
11、接駁的測試儀器接口有哪些？ 
12、測試環境時是否會需要加熱或者降溫？ 
13、對chuck的漏電要求怎樣？是否需要添加低阻抗chuck？ 
14、是否需要防震桌？ 
15、若添置防震桌，是否有壓縮空氣？