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GGB射頻探針選型
適用40A,40M,50A,67A,110H
以下以40A為例：
40A-GSG-150-P-W
40A指的是探針最高測試的頻率能力，40A代表此探針最高可測試到40GHz（40M為超低損耗探針）
GSG指的是探針對應的電極數量，可選GSG,GS,SG幾種形狀。還有多個探針組合的可看dual選型方法
150指的是探針腳間距，G和S間的距離；間距可從25um到2540um可選
P指的是探針頭的接頭形狀，共有12種結構
W指的的是探針針尖的材料，W是鎢鋼，標準的為鈹銅
2016-05-1314565
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探針臺的使用
1、將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。
2、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。
3、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下。
4、顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點，再微調顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調節清晰,帶測點在顯微鏡視場中心。
5、待測點位置確認好后,再調節探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個微調旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢，以防動作過大誤傷芯片，當探針針尖懸空于被測點上空時，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進行下針，最后則使用
2016-05-134707
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探針的分類說明
關于電學量測使用的探外地，一般分為以下幾大類，為您做詳細的說明
一、概述：
測試針，是用于測試PCBA的一種探針，主要做為電學信號的輸入。
表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。
探針的材質：W，ReW,A+
1.目前主要采用的材質為W，ReW,彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。
2.A+材質的免清針，這種材質彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。
二、探針分類
探針根據電子測試用途可分為：
A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針；
B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；
C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針；
三、探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。
懸臂
2016-05-134107
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2016-05-12
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